巖崎半導(dǎo)體曲線圖示儀是一種用示波管顯示半導(dǎo)體器件的各種特性曲線的儀器，并可測量低頻靜態(tài)參數(shù)。巖崎半導(dǎo)體曲線圖示儀可以測試多種半導(dǎo)體二極管、三極管、光耦、可控硅集成門電路等半導(dǎo)體器件。是從事半導(dǎo)體管研究制造及無線電領(lǐng)域工作者的一種*的儀器。
    1．特別要了解被測晶體管的集電極zui大允許耗散功率PCM，集電極對其它極的zui大反向擊穿電壓如V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)CER，集電極zui大允許電流ICM等主要指標(biāo)； 
    2．在測試前首先要將極性與被測管所需的極性相同即可選擇PNP或NPN的開關(guān)置于規(guī)定位置；    
    3．將集電極電壓輸出按至其輸出電壓不應(yīng)超過被測管允許的集電極電壓，同時(shí)將峰值電壓旋至零，輸出電壓按至合適的檔級(jí)并將功耗限制電阻置于一定的阻值，同時(shí)將X、Y偏轉(zhuǎn)開關(guān)置于合適的檔級(jí)，此檔級(jí)以不超過上述幾個(gè)主要直流參數(shù)為原則； 
    4．對被測管進(jìn)行必要的結(jié)算，以選擇合格的X階梯電流或電壓，原則以不超過被測管的集電極zui大允許耗損功率； 
    5．在進(jìn)行ICM的測試時(shí)一般采用單次階梯為宜，以免被測管的電流擊穿； 
    6．在進(jìn)行IC或ICM測試中應(yīng)根據(jù)集電極電壓的實(shí)際情況，不應(yīng)超過本儀器規(guī)定的zui大電流。